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雷击浪涌发生器SUR 8/20V1专门针对半导体器件及手机通信产品而设计的低压浪涌试验，依据电磁兼容试验中的雷击浪涌抗扰度试验特点和要求而设计的低压雷击浪涌发生器。符合标准：GB/T 17626.5《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》 、IEC61000-4-5：Testing and measurement techniques-Surge immunity test
智能型雷击浪涌发生器SUR 0561用于评估设备在遭受来自电源线端口和其他信号线端口上高能量骚扰时的性能，自然界的雷击（间接雷）以及供电线路中因大型开关切换所引起的电压变化对供电线路和通信线路的影响，其能量特别大，对产品的影响可能是破坏性的。符合标准：GB/T 17626.5《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》、IEC61000-4-5：Testing and measurement techniques-Surge immunity test
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