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雷击浪涌发生器SUR 8/20V1专门针对半导体器件及手机通信产品而设计的低压浪涌试验，依据电磁兼容试验中的雷击浪涌抗扰度试验特点和要求而设计的低压雷击浪涌发生器。符合标准：GB/T 17626.5《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》 、IEC61000-4-5：Testing and measurement techniques-Surge immunity test
雷击浪涌信号线耦合/去耦网络CDN-I/O是专门针对通讯产品及其它信号线做浪涌测试的耦合/去耦网络，可单线、双线、四线同时测试。产品符合IEC61000-4-5和GB/T17626.5等相关标准要求。
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