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雷击浪涌发生器SUR 8/20V1专门针对半导体器件及手机通信产品而设计的低压浪涌试验,依据电磁兼容试验中的雷击浪涌抗扰度试验特点和要求而设计的低压雷击浪涌发生器。符合标准:GB/T 17626.5《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》 、IEC61000-4-5:Testing and measurement techniques-Surge immunity test